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【4月7日】T3Ster熱阻測試儀功能及器件熱阻測試介紹
時間:2022-03-30 15:31:37  作者:

一般電子設備的失效,有55%是因為溫度超過規定的溫度值引起的,隨著溫度的增長,電子設備的失效率是呈指數增長的。工作溫度每升高10℃,器件的壽命減半,因此散熱條件成為器件質量的重要衡量指標。尤其對于功率半導體器件和大型集成電路等發熱嚴重的器件,高效的散熱條件成為使用壽命和可靠性要求的重要保證。因此散熱是否良好,直接影響器件的壽命和可靠性,故而對熱流路徑上的熱阻測量和檢驗成為保證器件性能的重要手段。西門子公司的T3Ster(Thermal Transient Tester,熱瞬態測試儀)是一套可實現瞬態、穩態測試的熱阻測試儀器,主要用于對分離或集成的雙極型晶體管、常見的二極管、三極管、LED和半導體閘流管、大功率IGBT、MOSFET等半導體器件無損熱瞬態及穩態測試。可用于結溫、熱阻測量、材料熱特性測量、老化實驗分析和封裝缺陷診斷等。


北京海基嘉盛科技有限公司利用T3Ster設備對不同的集成電路和功率半導體設備、LED等器件的熱流路徑評估進行了分析,積攢了實際測試、分析的經驗。可為用戶提供測試設備采購、技術支持和測試評估等服務。




課程內容 

1. 常見熱測試方法介紹

2. T3Ster設備、功能和用途介紹

3. 基于T3Ster 的測試方法介紹


課程日期

2022年4月7日周四下午15點

 

主講人介紹

溫工:碩士,1999年畢業于蘭州鐵道學院車輛工程專業,畢業后一直從事電子、電氣產品設計工作,2020年入職海基科技負責T3Ster相關的測試工作。


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